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涂鍍層測(cè)厚儀和涂層測(cè)厚儀的特點(diǎn)比較
日期：2025-05-06 12:06
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摘要：
涂層測(cè)厚儀也稱(chēng)為涂鍍層測(cè)厚儀
根據(jù)測(cè)量原理，涂鍍層測(cè)厚儀一般有以下五種類(lèi)型：
1.磁性厚度測(cè)量方法：適用于測(cè)量導(dǎo)電材料上非磁性導(dǎo)電層的厚度。 導(dǎo)磁材料通常是：鋼，鐵，銀，鎳。
2.渦流厚度測(cè)量方法：適用于導(dǎo)電金屬上非導(dǎo)電層的厚度測(cè)量。 此方法比磁性厚度測(cè)量方法（NT230涂層測(cè)厚儀）更**。
3.超聲波測(cè)厚法：目前國(guó)內(nèi)尚無(wú)這種測(cè)厚層厚度的方法。國(guó)外一些廠(chǎng)家也有這種儀器，適用于多層測(cè)厚層的厚度或厚度的測(cè)量。 無(wú)法測(cè)量以上兩種方法的場(chǎng)合。 但是它通常很昂貴并且測(cè)量精度不高。
4.電解厚度測(cè)量方法：該方法不同于上述三種方法。 這不是非破壞性測(cè)試，需要破壞涂層。 總體精度不高。 測(cè)量比其他類(lèi)型更麻煩。
5.輻射厚度測(cè)量方法：這種儀器非常昂貴（通常在10萬(wàn)元人民幣以上），適合某些特殊場(chǎng)合。
當(dāng)前，*常用的方法是前兩種方法。
常規(guī)涂鍍層測(cè)厚儀的原理
在材料的表面保護(hù)和裝飾上形成的覆蓋層，例如涂層，鍍層，涂層，粘附層，化學(xué)生成的薄膜等，在相關(guān)的國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為涂層。
涂層厚度的測(cè)量已經(jīng)成為加工行業(yè)和表面工程質(zhì)量檢查的重要組成部分，并且是產(chǎn)品達(dá)到**質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必不可少的手段。 為了使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)的出口商品和與國(guó)外有關(guān)的項(xiàng)目對(duì)涂層的厚度有明確的要求。
涂層厚度的主要測(cè)量方法是：楔形切割法，光學(xué)切割法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)量法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)背散射法，電容法，磁法和渦流法 法律等。這些方法的前五種是破壞性測(cè)試。 測(cè)量方法麻煩且緩慢，并且*適合于抽樣檢查。
X射線(xiàn)和β射線(xiàn)方法是非接觸式和非破壞性的測(cè)量方法，但是該設(shè)備復(fù)雜且昂貴，并且測(cè)量范圍小。 由于存在放射源，用戶(hù)必須遵守輻射防護(hù)規(guī)定。 X射線(xiàn)法可以測(cè)量非常薄的涂層，雙層涂層，合金涂層。 β射線(xiàn)法適用于原子量大于3的涂層的測(cè)量。電容法僅在測(cè)量薄導(dǎo)體絕緣涂層的厚度時(shí)使用。
隨著技術(shù)的進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微計(jì)算機(jī)技術(shù)之后，采用磁法和渦流法的測(cè)厚儀已朝著小型化，智能化，多功能化，高精度和實(shí)用性的方向邁出了一步。 測(cè)量的分辨率達(dá)到了0.1微米，精度可以達(dá)到1％，這已經(jīng)大大提高了。 它具有廣泛的應(yīng)用范圍，范圍廣，操作簡(jiǎn)便，價(jià)格低廉。 它是工業(yè)和科學(xué)研究中使用*廣泛的厚度測(cè)量?jī)x器。
無(wú)損檢測(cè)方法既不損傷涂層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，可以使大量的檢測(cè)工作變得經(jīng)濟(jì)。